Provenientes de la Universidad de California en Berkeley y la Universidad Católica de Chile, expertos internacionales impartieron una serie de capacitaciones a especialistas de la Oficina de Medición de la Calidad de los Aprendizajes (UMC).

Las capacitaciones se realizaron en la segunda semana de diciembre y el objetivo fue instruir a los especialistas de evaluación y análisis de la UMC en una nueva metodología (Construct mapping) para el establecimientos de puntos de corte, que determinan los niveles en la escala de dificultad de los ítems (preguntas) de las pruebas de evaluación.

A través de estas capacitaciones se ha podido recibir de primera mano información valiosa sobre las ventajas de esta metodología, lo cual permite tener una visión más amplia para futuras decisiones en las pruebas de evaluación.

Los expertos a cargo de estas ponencias fueron Karen Draney, Directora Asociada del Centro de Medición y Evaluación de Berkeley (BEAR, por sus siglas en inglés) y David Torres Irribarra, Investigador Asociado del Centro de Medición MIDE de la Universidad Católica de Chile.